国产精品不卡在线,精品国产_亚洲人成在线高清,色亚洲一区,91激情网

  • 頭條山東大學李清泉團隊發(fā)表有關(guān)電力電子裝備絕緣電荷特性的研究綜述
    2022-03-21 作者:何東欣,張濤 等  |  來源:《電工技術(shù)學報》  |  點擊率:
    分享到:
    導語本文通過對高壓電力電子裝備絕緣擊穿與閃絡(luò)影響機理的論述,揭示了脈沖電場下電荷行為對絕緣失效的重要作用,闡述了脈沖電壓參數(shù)對電荷特性影響的研究進展,并對目前研究存在的不足進行了總結(jié)與探討。這些研究成果的總結(jié)將為脈沖電壓下電力電子裝備絕緣材料和系統(tǒng)的優(yōu)化設(shè)計提供參考和理論指導。

    作者介紹

    山東大學李清泉團隊發(fā)表有關(guān)電力電子裝備絕緣電荷特性的研究綜述

     

    何東欣,1990年生,山東大學副教授、碩士生導師,入選山東大學青年學者“未來計劃”,擔任全球能源互聯(lián)網(wǎng)大學聯(lián)盟學校聯(lián)絡(luò)人。主要從事電氣絕緣電荷特性與失效機理研究。主持國家自然科學基金青年項目和山東省重大創(chuàng)新工程課題等項目,參與國家自然科學基金智能電網(wǎng)聯(lián)合基金、國家電網(wǎng)公司總部項目等多項,發(fā)表SCI、EI檢索高質(zhì)量期刊論文20余篇。榮獲中國電工技術(shù)學會青工委突出貢獻委員、優(yōu)秀組織獎和山東電機工程學會“五四”青年科技工作者等榮譽。

    山東大學李清泉團隊發(fā)表有關(guān)電力電子裝備絕緣電荷特性的研究綜述

     

    李清泉,高電壓與絕緣技術(shù)研究所教授、博士生導師,山東省特高壓輸變電技術(shù)與裝備重點實驗室主任,山東大學電氣工程學院副院長。主要研究方向為高電壓絕緣診斷技術(shù)、電力設(shè)備狀態(tài)在線監(jiān)測、高壓測試技術(shù)和常壓等離子體及應(yīng)用。承擔國家自然科學基金智能電網(wǎng)聯(lián)合基金項目、面上項目、山東省重點基金、重點研發(fā)計劃、國家電網(wǎng)、南方電網(wǎng)科技項目等50余項,發(fā)表高水平學術(shù)論文80余篇。參與學術(shù)著作《高壓組合電器》和《電力系統(tǒng)中的電磁兼容》的編寫和翻譯。獲山東省科技進步一等獎1項、二等獎2項,中國電力科技進步二等獎1項。

    團隊介紹

    本文作者來自山東大學電氣工程學院特高壓輸變電技術(shù)與裝備學術(shù)團隊,團隊依托山東省特高壓輸變電技術(shù)與裝備重點實驗室、山東大學電氣工程學院高電壓與絕緣技術(shù)研究所,主要的研究領(lǐng)域包括高電壓絕緣診斷技術(shù)、電力設(shè)備狀態(tài)在線監(jiān)測、高壓測試技術(shù)、高壓復合絕緣放電特性、劣化機理及絕緣評估等。近年來,該團隊承擔了多項國家級、省部級以及電網(wǎng)企業(yè)的研究項目。

    研究背景

    隨著特高壓直流輸電的發(fā)展和新能源發(fā)電并網(wǎng)規(guī)模的擴大,高壓電力電子器件和裝備在電力系統(tǒng)中占據(jù)越來越重要的地位。電力電子裝備長期處于高頻、陡脈沖電壓的運行工況下,其絕緣系統(tǒng)易發(fā)生早期失效,威脅電力系統(tǒng)運行的安全性和可靠性。其中,空間電荷動態(tài)行為是脈沖電場下電氣絕緣早期失效的重要誘因。因此,為優(yōu)化絕緣材料設(shè)計方案、提升電力電子裝備可靠性,探究高頻脈沖電壓下電荷行為特性及絕緣劣化機理具有重要意義。

    綜述要點

    (1)電力電子裝備承受脈沖電壓工況

    開關(guān)器件的導通和關(guān)斷引起電壓突變,會在器件本身、電力電子裝備以及相連接的設(shè)備上產(chǎn)生高頻、陡上升沿的脈沖電壓及電流。同時,脈寬調(diào)制技術(shù)(Pulse Width Modulation, PWM)的廣泛應(yīng)用,使得現(xiàn)代電力電子裝備承受具有快速上升沿和下降沿、較高幅值和重復頻率的方波脈沖電壓。如圖1所示,高頻變壓器、換流變壓器閥側(cè)套管、高壓電力電子器件均承受高頻脈沖電壓作用。

    山東大學李清泉團隊發(fā)表有關(guān)電力電子裝備絕緣電荷特性的研究綜述

    圖1 常見電力電子裝備及器件承受電壓波形

    (2)脈沖電壓下電氣絕緣特性與電荷行為關(guān)系

    研究表明,相較于同等幅值的直流和交流電壓,脈沖電壓下電氣絕緣擊穿壽命嚴重縮短、電樹枝起始電壓大幅下降(如圖2所示),氣固絕緣界面的表面局部放電更加劇烈、閃絡(luò)電壓降低。通過對脈沖電壓下電樹枝特性、表面放電和閃絡(luò)特性研究現(xiàn)狀的總結(jié),厘清電荷行為與電氣絕緣特性的關(guān)聯(lián)關(guān)系。

    山東大學李清泉團隊發(fā)表有關(guān)電力電子裝備絕緣電荷特性的研究綜述

    圖2 正弦和脈沖方波電壓下絕緣特性對比

    ①電樹枝起始、擊穿等特性主要取決于空間電荷行為。脈沖電場力加速電荷獲得動能,撞擊材料分子鏈,引發(fā)電離和產(chǎn)生電樹枝;除此之外,在脈沖電壓的激勵作用下會引發(fā)被捕獲的電荷脫陷,如果脫陷時間小于材料的松弛時間,所釋放能量將導致化學鍵破壞而引發(fā)電樹枝。

    ②表面電荷的積聚增加了初始電子產(chǎn)生的概率,促進了電子崩的形成與發(fā)展,有助于形成沿面放電及閃絡(luò)。此外,快速變化電場產(chǎn)生較大磁場,增大電荷所受洛倫茲力,使電荷獲得更高能量,高能電子的碰撞加劇了對絕緣微觀結(jié)構(gòu)的破壞,導致電樹枝起始和沿面閃絡(luò)發(fā)生。

    (3)脈沖電壓下電荷特性研究現(xiàn)狀

    不同脈沖參數(shù)對材料內(nèi)部空間電荷特性的影響尚未形成統(tǒng)一合理的理論解釋,還需通過研究得到較為普遍適用的總體規(guī)律以及理清不同絕緣材料間的差異,進而為絕緣材料的改進提供理論指導。

    大多數(shù)研究僅關(guān)注了方波電壓高電平和低電平電壓恒定階段的電荷穩(wěn)態(tài)特性,缺乏脈沖邊沿時刻電荷的動態(tài)行為探究。相較于脈沖電壓下電荷穩(wěn)態(tài)特性,脈沖邊沿處電荷的動態(tài)行為對絕緣的損傷更為嚴重。然而,專門針對上升和下降沿處空間電荷動態(tài)特性的研究較為缺乏,亟需探究相關(guān)特性并闡釋其內(nèi)在機理。

    隨著脈沖頻率增加、上升時間縮短、占空比增加,表面電荷積累增大。脈沖電壓作用導致閃絡(luò)后表面電荷極性發(fā)生改變,對表面電場的畸變作用更加嚴重,加速絕緣表面老化。但是,表面電荷較為成熟的測量方法多為離線方式,可探索能夠?qū)崟r監(jiān)測表面電荷的變化的新測試方法。

    (4)脈沖邊沿時刻電荷動態(tài)特性

    由于電荷測試技術(shù)重復頻率的限制,難以實現(xiàn)微秒級別甚至納秒級別的電荷快速重復測試,尚無法直接獲得在脈沖邊沿時刻的電荷動態(tài)行為,制約了脈沖電壓下絕緣特性研究的發(fā)展。

    作者所在課題組提出通過脈沖邊沿前后電荷分布對比的思路,間接推導脈沖時刻的電荷行為,研制脈沖觸發(fā)控制電路,使電荷測試時間與上升沿和下降沿精確匹配,通過上升、下降沿前后電荷分布數(shù)據(jù)對比獲知電荷運動行為機制。

    初步發(fā)現(xiàn)脈沖邊沿時刻空間電荷變化現(xiàn)象,基于電荷受力分析理論對該現(xiàn)象進行了解釋。將將固體介質(zhì)內(nèi)空間電荷受力簡化分為電場力和“材料應(yīng)力”兩類,從電荷受力平衡被打破的角度,對脈沖邊沿時刻的電荷運動行為進行了分析與討論。

    主要研究結(jié)論與展望

    ①脈沖電壓下電力電子裝備絕緣易于發(fā)生早期失效,其中電荷特性及動態(tài)行為是重要誘因。脈沖電壓參數(shù)的變化改變了空間電荷及表面電荷的運動和積聚特性,進而對絕緣電氣性能及壽命產(chǎn)生影響。

    ②脈沖邊沿激發(fā)電荷狀態(tài)突變,通過脫陷釋放能量、高能電子撞擊和洛倫茲力等作用,加劇破壞絕緣結(jié)構(gòu),因此脈沖時刻電荷的動態(tài)變化行為研究尤為重要。脈沖電壓上升、下降沿處電場力突變所導致的電荷所受合力發(fā)生變化是引發(fā)電荷發(fā)生入陷、脫陷、遷移等行為的重要原因。

    ③隨著以氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)等寬禁帶半導體材料的發(fā)展,開關(guān)器件的進步將產(chǎn)生更高頻率、更陡斜率的脈沖電壓,未來應(yīng)探索適應(yīng)高頻、陡脈沖電壓下電荷測試技術(shù),從實驗現(xiàn)象、物理規(guī)律和數(shù)值模擬等各方面深入探索,從根本上揭示脈沖電壓下絕緣早期失效機理。

    引用本文

    何東欣,張濤,陳曉光,鞏文潔,李清泉.脈沖電壓下電力電子裝備絕緣電荷特性研究綜述[J].電工技術(shù)學報, 2021, 36(22): 4795-4808. He Dongxin, Zhang tao, Chen Xiaoguang, Gong Wenjie, Li Qingquan. Research Overview on Charge Characteristics of Power Electronic Equipment Insulation Under the Pulse Voltage[J]. Transactions of China Electrotechnical Society, 2021, 36(22): 4795-4808.